Pat
J-GLOBAL ID:200903096766583809

眼のコヒーレンス・トポグラフィック・レイトレーシング測定のための装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 松田 省躬
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002147222
Publication number (International publication number):2003000543
Application date: May. 22, 2002
Publication date: Jan. 07, 2003
Summary:
【要約】【課題】信号記録過程における縦方向および横方向の眼の動きによる構造の測定誤差を惹き起こさない短コヒーレンス干渉測定に基づく眼構造のトポグラフィック測定【解決手段】縦方向の眼の動きによる影響は、参照光線を測定光線とは関係なく角膜頂上に照準して、そこで反射させることによって補正され、縦方向の眼の動きによる影響は、角膜頂上で反射した光をダイオードアレーまたは四象限ダイオードにより方向別に記録することで横方向の眼のポジションを点検し、それにより横方向の調整ずれを見極め補正することで最小化する
Claim (excerpt):
一連の測定ポジションにおける短コヒーレンス干渉計の測定光線を、眼の瞳孔に向けて放射させ、同時に参照光線を測定光線とは関係なく角膜頂点に固定照準させて、そこで反射させることを特徴とする、2光線干渉計の参照アーム光学長走査において、様々な瞳孔点で短コヒーレント干渉測定された一連の深部信号に基づく眼のコヒーレンス・トポグラフィ測定のための装置
FI (2):
A61B 3/10 R ,  A61B 3/10 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-075411   Applicant:キヤノン株式会社
  • 特開平4-135551
Cited by examiner (2)
  • 眼科装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-075411   Applicant:キヤノン株式会社
  • 特開平4-135551

Return to Previous Page