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J-GLOBAL ID：200903096781781080

物品放射能検出装置および物品放射能検出システム

Inventor： 中田 幹裕 ,  落合 英二 ,  浦山 勝己 ,  今井 信之 ,  土井 英雄
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社 ,  ニユークリア・デベロップメント株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001186517
Publication number (International publication number)：2003004886
Application date： Jun. 20, 2001
Publication date： Jan. 08, 2003
Summary：

【要約】【課題】物品の内部および表面の放射能を同時に測定し測定効率の向上を図る。【解決手段】物品20から放出されるβ線を捕獲することが可能であって、物品20から放出されるγ線の透過が可能な検出部厚みを有し、物品表面21aからのβ線、物品表面21aからのγ線、および物品内部21bからのγ線による合計計数率を計数する薄型フ ゚ラスチックシンチレータ検出器1と、検出面を検出器1の検出面の非物品側の面に検出器1の検出面の外形とほぼ一致するように重ね合わせて配置し、物品20から放出され検出器1を透過して入射するγ線を捕獲することが可能な検出部厚みを有し、物品表面21aから放出のγ線、および物品内部21bからのγ線による合計計数率を計数する厚型NaI(Tl)シンチレータ検出器2と、両検出器1,2によって計数された計数率に基づいて物品表面21aからのβ線計数率、物品内部21bからのγ線計数率、物品表面21aからのγ線計数率を求める計数率演算回路12とを備える。

Claim (excerpt)：

測定対象とする物品側に検出面を向けて配置してなり、前記物品から放出されるβ線を捕獲することが可能であって、前記物品から放出されるγ線の透過が可能な検出部厚みを有し、前記物品の表面から放出されるβ線による計数率(K3)、前記物品の表面から放出されるγ線による計数率(K1)、および前記物品の内部から放出されるγ線の計数率(K4)を合計した合計計数率(P=K1+K3+K4)を計数する第1の放射線検出器と、前記第1の放射線検出器の検出面とほぼ同一寸法形状の検出面を有し、この検出面を前記第1の放射線検出器の検出面の非物品側の面に、前記第1の放射線検出器の検出面の外形とほぼ一致するように重ね合わせて配置し、前記物品から放出され、前記第1の放射線検出器を透過して入射するγ線を捕獲することが可能な検出部厚みを有し、前記物品の表面から放出されるγ線による計数率(K2)、および前記物品の内部から放出されるγ線による計数率(K5)を合計した合計計数率(Q=K2+K5)を計数する第2の放射線検出器と、前記第1および第2の放射線検出器によって計数された計数率に基づいて前記物品の表面から放出されるβ線による計数率(K3)、前記物品の内部から放出されるγ線による計数率(K5)、前記物品の表面から放出されるγ線による計数率(K2)を求める計数率演算手段とを備えたことを特徴とする物品放射能検出装置。

IPC (3)：

G21C 17/00 ,  G01T 1/167 ,  G01T 1/169

FI (3)：

G01T 1/167 D ,  G01T 1/169 A ,  G21C 17/00 D

F-Term (19)：

2G075AA01 ,  2G075AA18 ,  2G075CA48 ,  2G075DA08 ,  2G075FA18 ,  2G075FB07 ,  2G075FC14 ,  2G075GA15 ,  2G075GA16 ,  2G088EE06 ,  2G088EE17 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088GG11 ,  2G088GG15 ,  2G088GG18 ,  2G088JJ01 ,  2G088KK28 ,  2G088KK29

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 特開昭60-188869