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J-GLOBAL ID：200903096860092924

分光光度分析のための装置及びその方法

Inventor： ルドルフ・アー・ハチエク
Applicant, Patent owner： ルドルフ・アー・ハチエク
Agent (1)： 江崎 光史 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992333268
Publication number (International publication number)：1993332835
Application date： Dec. 14, 1992
Publication date： Dec. 17, 1993
Summary：

【要約】【目的】 本発明は、分光光度分析装置において、簡単で複雑な精度を要求することなく、コストの安い装置の構造で高い測定精度を得かつこの精度を保持するようにすることである。【構成】 光源5、光のスペクトル分解のための分散要素23、複数の電気的変換器25aを備えた受光器25及び受光器25と接続した電気的評価装置41を有する材料の分光光度分析のための装置にしてその際受光器25は電気信号の発生のために形成されており、その電気信号は電気的変換器25aに入射する光の強度の大きさを表す前記装置において、光源5はスペクトル光源として形成されておりその結果分析測定の際に材料により影響される種々のスペクトル線を有する光は相異なる電気的変換器25aに到達することを特徴とする前記装置。

Claim (excerpt)：

光源(5、105)、光のスペクトル分解のための分散要素(23、123、423)、複数の電気的変換器(25a、125a、425a)を備えた受光器(25、125、425)及び受光器(25、125、425)に接続した電気的評価装置(41)を有する材料の分光光度分析のための装置にして、その際受光器(25、125、425)は電気信号の発生のために形成されており、その電気信号は電気的変換器(25a、125a)に入射する光の強度の大きさを表す前記装置において、光源(5、105)はスペクトル光源として形成されており、その結果分析測定の際に材料によって影響される種々のスペクトル線を有する光は相異なる電気的変換器(25a、125a)に達することを特徴とする前記装置。

IPC (2)：

G01J 3/36 ,  G01N 21/27

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-203250
  
• 特開昭53-116193
  
• 特開昭58-192529