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J-GLOBAL ID：200903096878786800
地盤表面の計測システム
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
久門 知 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994214616
Publication number (International publication number)：1996074238
Application date： Sep. 08, 1994
Publication date： Mar. 19, 1996
Summary：
【要約】【目的】 地盤表面の締め固まり状態、特にソイルセメント工法の施工後の状態を簡易な方法でリアルタイムに計測する計測システムの提供。【構成】 γ線源および中性子線源および両線源より放射された放射線が地盤表面によって散乱されて戻ってくる散乱γ線、速中性子、熱中性子をそれぞれ計測する検出機器ならびにデータ処理機器を搭載した橇を地盤上を滑らせ、橇と地盤との間隙の測定値に基づいて、地盤表面の水分、密度の測定値の取捨選択・補正を行い、補正後の値に基づいて管理項目値を算出して表示、記録する。
Claim (excerpt)：
γ線源および中性子線源および両線源より放射された放射線が地盤表面によって散乱されて戻ってくる散乱γ線、速中性子、熱中性子をそれぞれ計測する検出機器ならびにデータ処理機器を搭載した橇を地盤上を滑らせ、橇と地盤との間隙の測定値に基づいて、地盤表面の水分、密度の測定値の取捨選択・補正を行い、補正後の値に基づいて管理項目値を算出して表示、記録することを特徴とする地盤表面の計測システム。
IPC (3)：
E02D 1/00
, G01N 9/24
, G01N 33/24
