Pat

J-GLOBAL ID：200903096882835726

外観検査装置における2値化算出方式

Inventor： 美濃口 昭
Applicant, Patent owner： 東洋通信機株式会社
Agent (1)： 鈴木 均
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993282075
Publication number (International publication number)：1995113758
Application date： Oct. 15, 1993
Publication date： May. 02, 1995
Summary：

【要約】【目的】半透明ガラス製品の表面及び内部に存在し、傷が存在しない部分と比較して高輝度な状態で検出される傷を検出する傷検査装置の特徴抽出部において、好適な2値化しきい値を求める2値化算出方式を提供する。【構成】半透明ガラス製品の表面若しくは内部に存在する傷を検出する傷検出装置の特徴抽出において、被検査物に光を照射し、被検査物よりの反射光をCCDカメラにて取り込み、取り込まれた画像のうち、被検査物のみの画像における各画素の輝度を検出し、各画素の輝度と画素数とから、輝度の平均輝度及び標準偏差を求め、前記標準偏差の3倍に前記平均輝度を加算した値を2値化しきい値とすることにより、被検査物の表面の仕上げ状態のばらつきに基づく輝度変化、或いは被検査物に光を照射する照明の明暗ばらつき等に左右されず、傷と傷以外の部分との分離を確実に行うことを特徴とする。

Claim (excerpt)：

半透明ガラス製品の表面若しくは内部に存在する傷を検出する傷検出装置の特徴抽出において、被検査物に光を照射し、被検査物からの反射光をCCDカメラにて取り込み、取り込まれた画像のうち、被検査物のみの画像における各画素の輝度を検出し、各画素の輝度と画素数とから、輝度の平均輝度及び標準偏差を求め、2値化しきい値=平均輝度+3×標準偏差の演算を行うことにより、特徴抽出に用いる2値化しきい値を決定したことを特徴とする外観検査装置における2値化算出方式。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G06T 5/00