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J-GLOBAL ID：200903096901971806

蛍光輝度測定方法及び装置

Inventor： 芝▲崎▼ 尊己 ,  大川 金保
Applicant, Patent owner： オリンパス光学工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001342190
Publication number (International publication number)：2002257730
Application date： Nov. 07, 2001
Publication date： Sep. 11, 2002
Summary：

【要約】【課題】バイオチップ上の表面近傍に異物が存在した場合でも、測定誤差を少なくすることが可能であり、異物の存在を認識して輝度測定値の信頼性を定量的に判断することができる蛍光輝度測定方法及び装置を提供すること。【解決手段】標識蛍光物質を励起する波長の光を照射して蛍光画像101を得て、前記蛍光物質を励起しない波長の光を照射して得た前記被測定物に付着した異物の画像102から抽出した異物領域画像103によってマスクを作成し、該マスクと前記蛍光画像101との論理積をとることにより、前記蛍光画像101から異物領域を除去した蛍光画像104を得る。

Claim (excerpt)：

略平面を有する基板上に配列された蛍光物質を含む微小点の輝度を測定する蛍光輝度測定方法であって、前記蛍光物質を励起できる波長の光を照射して蛍光物質を含む微小点の画像を第1の画像として得る第1の撮像工程と、前記蛍光物質を励起しない波長の光を照射することにより前記基板上に付着した異物の画像を第2の画像として得る第2の撮像工程と、該第2の画像から異物領域を抽出して2値化画像を得る抽出工程と、該2値化画像をマスクとして前記第1の画像のうち、異物領域と重なった部分の画像を無効とする異物除去工程と、を含むことを特徴とする蛍光輝度測定方法。

IPC (5)：

G01N 21/64 ,  G01J 1/42 ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 33/58 ,  G01N 37/00 102

FI (5)：

G01N 21/64 F ,  G01J 1/42 Q ,  G01N 33/543 595 ,  G01N 33/58 A ,  G01N 37/00 102

F-Term (53)：

2G043AA01 ,  2G043BA16 ,  2G043CA03 ,  2G043EA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043FA07 ,  2G043GA04 ,  2G043GA07 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043JA02 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043LA03 ,  2G043MA01 ,  2G043MA12 ,  2G043NA01 ,  2G043NA06 ,  2G045AA34 ,  2G045AA35 ,  2G045DA12 ,  2G045DA13 ,  2G045DA14 ,  2G045DA36 ,  2G045FA19 ,  2G045FA29 ,  2G045FB02 ,  2G045FB07 ,  2G045FB12 ,  2G045FB15 ,  2G045GC15 ,  2G045HA09 ,  2G045HA16 ,  2G045JA01 ,  2G045JA02 ,  2G045JA07 ,  2G065AB04 ,  2G065AB11 ,  2G065BA05 ,  2G065BB14 ,  2G065BB24 ,  2G065BB26 ,  2G065BB27 ,  2G065BC11 ,  2G065BC13 ,  2G065BC15 ,  2G065BC28 ,  2G065BC33 ,  2G065BC35 ,  2G065CA01 ,  2G065CA15 ,  2G065DA08