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J-GLOBAL ID：200903096981690268

同位体で標識された基質を用いた細胞内代謝フラックスの解析方法

Inventor：
岩谷 真太郎

About 岩谷 真太郎

, 
臼田 佳弘

About 臼田 佳弘

, 
松井 和彦

About 松井 和彦


Applicant, Patent owner：
味の素株式会社

About 味の素株式会社


Agent (3)： 川口 嘉之 ,  松倉 秀実 ,  遠山 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005024929
Publication number (International publication number)：2005245440
Application date： Feb. 01, 2005
Publication date： Sep. 15, 2005
Summary：
【課題】 より安価で、解析時期や培養法を選ばない代謝フラックス解析手法を提供する。【解決手段】 (a)同位体で標識された物質を含まない培地で、代謝フラックス解析の対象とする状態となるまで細胞を培養する工程、(b)同位体で標識された基質を培地に添加し、培養を継続するとともに経時的に培養液から試料を採取する工程、(c)経時的に採取された試料に含まれる細胞内代謝物における同位体分布を測定する工程、(d)測定されたデータに対して回帰分析を実行し、定常状態の同位体分布比率を算出する工程、および、(e)算出された同位体分布比率を用いて培養細胞の代謝フラックスを解析する工程により、細胞の代謝フラックスを解析する。【選択図】 図6
Claim (excerpt)：
細胞における代謝フラックスの解析方法であって、 (a)同位体で標識された基質を含まない培地で、代謝フラックス解析の対象とする状態となるまで細胞を培養する工程、 (b)同位体で標識された基質を培地に添加し、培養を継続するとともに経時的に培養液から試料を採取する工程、 (c)経時的に採取された試料に含まれる細胞内代謝物における同位体分布を測定する工程、 (d)測定されたデータに対して回帰分析を実行し、 定常状態の同位体分布比率を算出する工程、および (e)算出された同位体分布比率を用いて培養細胞の代謝フラックスを解析する工程、を有することを特徴とする方法。
IPC (2)：
C12Q1/00 ,  C12Q1/02
FI (2)：
C12Q1/00 Z ,  C12Q1/02
F-Term (15)：
4B063QA01 ,  4B063QA05 ,  4B063QA18 ,  4B063QQ05 ,  4B063QQ15 ,  4B063QQ61 ,  4B063QQ80 ,  4B063QR41 ,  4B063QR49 ,  4B063QR69 ,  4B063QR74 ,  4B063QR90 ,  4B063QS36 ,  4B063QX07 ,  4B063QX10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3)
  • 国際公開第WO 00/46405号パンフレット
  • 国際公開第WO 02/061115号パンフレット
  • 国際公開第WO 02/055995号パンフレット
Cited by examiner (1)
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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