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J-GLOBAL ID：200903096983100751

機器の異常監視方法および装置

Inventor： 山田 泉 ,  朝倉 大和 ,  長瀬 誠 ,  及部 光治 ,  芥川 邦雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992162751
Publication number (International publication number)：1994004789
Application date： Jun. 22, 1992
Publication date： Jan. 14, 1994
Summary：

【要約】【目的】 正常値の把握が困難な機器から多数の監視信号を検出し、これら多数の監視信号の関連性を抽出して、機器の異常初期徴候を検出し、検出精度が向上化された異常監視方法および異常監視装置を実現する。【構成】 多数の監視信号のうち、高速変化する監視信号から機器の異常監視に必要な成分のみを抽出する(ステップ1〜5)。予め記憶された目的・説明変数名リストに対応する監視信号を読みとり、監視信号間の回帰係数を算出する(ステップ6〜12)。回帰係数の許容範囲を算出して、回帰係数が、許容範囲内であるか否かを判断し、範囲外のときには、警報を表示する(ステップ13〜16)。次に、回帰係数の時間変化率を算出するとともに、許容時間変化率を算出し、回帰係数の時間変化率が許容値内であるか否かを判断し、許容値外であるときは、警報を表示する(ステップ17〜20)。

Claim (excerpt)：

監視対象機器または監視対象機器及びその周辺設備の多数の特性を検出し、検出した多数の特性を多数の監視信号として、取り込むステップと、取り込んだ多数の監視信号を重回帰分析し、回帰係数を算出するステップと、算出した回帰係数の妥当性評価を実行するステップと、算出した回帰係数が、所定の正常範囲内にあるか否かを判断し、所定の正常範囲内にないときには、機器に異常が発生したと判断するステップと、を備えることを特徴とする機器の異常監視方法。

IPC (5)：

G08B 23/00 ,  G01D 21/00 ,  G06F 15/31 ,  G21C 17/00 ,  G05B 23/02 302