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J-GLOBAL ID：200903097031474760

レーザーイオン化質量分析装置および測定方法

Inventor： 宮澤 邦夫 ,  永野 英樹 ,  近藤 隆明
Applicant, Patent owner： 日本鋼管株式会社
Agent (1)： 田中 政浩
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998164515
Publication number (International publication number)：1999352105
Application date： Jun. 12, 1998
Publication date： Dec. 24, 1999
Summary：

【要約】【課題】 超音速分子ジェットによる試料導入のレーザー多光子イオン化質量分析技術において、分析精度の高い測定装置を提供する。【解決手段】 上記課題は、試料ガスをレーザーイオン化質量分析装置に送入する配管の内面が不活性化処理され、あるいは該配管に加熱手段が設けられているレーザーイオン化質量分析装置によって解決される。

Claim (excerpt)：

試料ガスをレーザーイオン化質量分析装置に送入する配管の内面が不活性化処理されていることを特徴とするレーザーイオン化質量分析装置

IPC (4)：

G01N 27/62 ZAB ,  G01N 27/62 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/14

FI (4)：

G01N 27/62 ZAB V ,  G01N 27/62 F ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/14