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J-GLOBAL ID：200903097142698420
粒子分析装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
野河 信太郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995168750
Publication number (International publication number)：1997021739
Application date： Jul. 04, 1995
Publication date： Jan. 21, 1997
Summary：
【要約】【構成】 検体に含まれる粒子を特徴づけるパラメータを測定し、そのパラメータによって粒子の分布データを作成する分布データ作成手段と、分布データ上の所定の判定領域を予め記憶する判定領域記憶手段と、分布データが少くとも1つの集団を形成するとき、その集団の位置を示す集団基準点を抽出する基準点抽出手段と、分布データ作成手段によって分布データが作成されるごとに、抽出される集団基準点を参照して分布データ上の判定領域の位置を較正する判定領域較正手段と、較正された判定領域内に存在する粒子に基づいて検体を判定する判定手段を備える。【効果】 分布データにおける集団の位置が変動しても、それに対応して判定領域の位置が較正されるので、粒子分析装置の計測特性上のバラツキや検体のバラツキが吸収され、検体の判定精度が向上する。
Claim (excerpt)：
検体に含まれる粒子を特徴づけるパラメータを測定し、そのパラメータによって粒子の分布データを作成する分布データ作成手段と、分布データ上の所定の判定領域を予め記憶する判定領域記憶手段と、分布データが少くとも1つの集団を形成するとき、その集団の位置から集団基準点を抽出する基準点抽出手段と、分布データ作成手段によって分布データが作成されるごとに、抽出される集団基準点を参照して分布データ上の判定領域の位置を較正する判定領域較正手段と、較正された判定領域内に存在する粒子に基づいて検体を判定する判定手段を備える粒子分析装置。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1)
Cited by examiner (1)
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