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J-GLOBAL ID：200903097190941310

変位量測定装置及び方法

Inventor： 閻 楓 ,  高橋 正
Applicant, Patent owner： 住友電気工業株式会社
Agent (1)： 長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997198858
Publication number (International publication number)：1999037717
Application date： Jul. 24, 1997
Publication date： Feb. 12, 1999
Summary：

【要約】【課題】 長期間の使用に対しても、測定対象物の変位量の測定感度を維持することができる変位量測定装置及び方法を提供することを目的とする。【解決手段】 本発明は、測定対象物の変位によって生じる光ファイバ心線15の光損失の変化を監視し、その光損失変化から測定対象物の変位量を測定する変位量測定装置10において、光ファイバ心線15が、径方向に弾性変形するドラム8の外周に沿って少なくとも1回巻き付けられ、ドラム8は、変位する測定対象物により押圧されることを特徴とする。

Claim (excerpt)：

測定対象物の変位によって生じる光ファイバ心線の光損失の変化を監視し、その光損失変化から前記測定対象物の変位量を測定する変位量測定装置において、前記光ファイバ心線が、径方向に弾性変形するドラムの外周に沿って少なくとも1回巻き付けられ、前記ドラムは、変位する前記測定対象物により押圧されることを特徴とする変位量測定装置。

IPC (3)：

G01B 11/00 ,  G01B 11/16 ,  G01D 5/26

FI (3)：

G01B 11/00 F ,  G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-219503
  
• 光ファイバ変位計
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-096034   Applicant：古河電気工業株式会社