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J-GLOBAL ID：200903097193176398

X線検査装置の設計方法及びX線検査装置

Inventor： 宮井 裕史 ,  北口 博司 ,  出海 滋 ,  川崎 智 ,  佐藤 克利 ,  服部 行也
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 春日 讓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992345741
Publication number (International publication number)：1994194451
Application date： Dec. 25, 1992
Publication date： Jul. 15, 1994
Summary：

【要約】【目的】X線検査装置の設計方法及びX線検査装置において、検出素子やコリメータの最適寸法についての設計基準を与え、設計を容易にすると共に、撮影時間の短縮と良好な断層像を得ることを可能とする。【構成】X線が検出素子6に入射することにより発生する2次電子の有効最大飛程bを計算し、この有効最大飛程bと検出素子の有効開口幅aとで求められるa+2bを基準にして検出素子の有感部の幅Wdを決定する。例えば、幅Wdをa≦Wd≦a+2bを満たすように設計する。また、入射するX線の最大エネルギーと等しいエネルギーの2次電子の最大飛程をcとするとき、幅Wdをa+2b<Wd<a+2cを満たすように設計する。

Claim (excerpt)：

試料にX線を照射するためのX線源と、回転並進移動して試料を操作する操作手段と、前記X線源により発生したX線の進行方向と垂直な方向に配列され、前記試料を透過したX線を検出する複数の検出素子を有するX線検出器と、前記複数の検出素子の前方に配置され、前記各検出素子の有効開口幅を画定するコリメータとを備えるX線検査装置の設計方法において、前記X線が前記検出素子に入射することにより発生する2次電子の有効最大飛程を計算すること;前記コリメータにより画定される前記各検出素子の有効開口幅をa、前記2次電子の有効最大飛程をbとするとき、前記各検出素子の有感部の幅Wdをa+2bを基準にして設計すること;を特徴とするX線検査装置の設計方法。

IPC (3)：

G01T 1/20 ,  A61B 6/03 320 ,  A61B 6/03

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開昭58-033877
  
• 特開昭62-177472
  
• 特開昭63-090176
  
• 特開昭63-122428