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J-GLOBAL ID：200903097246278546

印刷パターン検査装置

Inventor： 河尻 浩宣 ,  柳沼 実
Applicant, Patent owner： 花王株式会社
Agent (1)： 笹島 富二雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991340919
Publication number (International publication number)：1993172542
Application date： Dec. 24, 1991
Publication date： Jul. 09, 1993
Summary：

【要約】【目的】 製品に印刷されたパターンの欠陥を画像認識により判定する。【構成】 予め、完全品の濃淡画像を取込み(S3)、また、この濃淡画像に基づく微分処理画像と2値化処理画像とを作成しておく(S4,S5)。検査に際しては、被検査品の濃淡画像を取込む(S8)。そして、被検査品の濃淡画像を2値化処理し(S9)、完全品の2値化処理画像と比較してズレ画素数Bを算出し(S11)、被検査品の濃淡画像をシフトする(S12)。そして、完全品の濃淡画像と被検査品のシフトした濃淡画像との差の絶対値による第1の差画像を作成し(S13)、次に第1の差画像から完成品の微分処理画像を引算して第2の差画像を作成し(S14)、次に第2の差画像を2値化処理して欠陥抽出画像を作成する(S15)。

Claim (excerpt)：

製品に印刷されたパターンの欠陥を判定する印刷パターン検査装置であって、完全品の濃淡画像を取込む手段と、完全品から取込んだ濃淡画像を2値化処理する手段と、被検査品の濃淡画像を取込む手段と、被検査品から取込んだ濃淡画像を2値化処理する手段と、完全品の2値化処理画像と被検査品の2値化処理画像とに基づいてズレ画素数を算出する手段と、被検査品から取込んだ濃淡画像を前記ズレ画素数-1から前記ズレ画素数+1の範囲でシフトする手段と、完全品から取込んだ濃淡画像と被検査品から取込んでシフトした濃淡画像との差の絶対値を画素毎に演算して差画像を作成する手段と、前記差画像を2値化処理して欠陥抽出画像を作成する手段と、前記欠陥抽出画像に基づいて欠陥の程度を判定する手段と、を含んで構成される印刷パターン検査装置。

IPC (6)：

G01B 11/24 ,  B41F 33/04 ,  G01N 21/88 ,  G06F 15/62 410 ,  G06F 15/70 330 ,  H05K 3/00

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 特開平2-010138
  
• 特開昭61-151709
  
• 特開昭62-113436