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J-GLOBAL ID：200903097251791642

分光測定装置

Inventor： 三瓶 義広 ,  小宮山 誠 ,  荻野 賢治 ,  鈴木 泰幸 ,  岡田 頼樹 ,  岡田 修平
Applicant, Patent owner： 横河電機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002002991
Publication number (International publication number)：2003207394
Application date： Jan. 10, 2002
Publication date： Jul. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】 フォトダイオードアレイのピッチに影響されることなく、波長分解能の向上を図った分光測定装置を実現することを目的にする。【解決手段】 本発明は、被測定光を分光する波長分散素子と、この波長分散素子によって分光された光を受光し、光電流を出力する複数のフォトダイオードからなるフォトダイオードアレイとを有し、フォトダイオードアレイの出力により、測定を行う分光測定装置において、被測定光を偏向させ、フォトダイオードアレイで受光される位置を変える偏向手段を設け、異なる偏向量における測定結果により、被測定光の特性を測定することを特徴とするものである。

Claim (excerpt)：

被測定光を分光する波長分散素子と、この波長分散素子によって分光された光を受光し、光電流を出力する複数のフォトダイオードからなるフォトダイオードアレイとを有し、フォトダイオードアレイの出力により、測定を行う分光測定装置において、前記被測定光を偏向させ、前記フォトダイオードアレイで受光される位置を変える偏向手段を設け、異なる偏向量における測定結果により、前記被測定光の特性を測定することを特徴とする分光測定装置。

IPC (4)：

G01J 3/36 ,  G01J 3/06 ,  G01J 3/14 ,  G01J 3/18

FI (4)：

G01J 3/36 ,  G01J 3/06 ,  G01J 3/14 ,  G01J 3/18

F-Term (13)：

2G020CB04 ,  2G020CC02 ,  2G020CC07 ,  2G020CC13 ,  2G020CC30 ,  2G020CC56 ,  2G020CC63 ,  2G020CD03 ,  2G020CD24 ,  2G020CD34 ,  2G020CD36 ,  2G020CD37 ,  2G020CD51

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (5)

• 特開平1-197617
  
• 特開平3-102229
  
• 光素子および光フィルタ
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-361509   Applicant：古河電気工業株式会社
• 光制御素子
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-295936   Applicant：日立工機株式会社
• 特開昭61-270736