Pat

J-GLOBAL ID：200903097425529730

光増幅器の雑音特性測定方式

Inventor： 木下 進
Applicant, Patent owner： 富士通株式会社
Agent (1)： 大菅 義之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992058259
Publication number (International publication number)：1993257177
Application date： Mar. 16, 1992
Publication date： Oct. 08, 1993
Summary：

【要約】【目的】 光増幅器の雑音特性の測定方式に関し、例えば光電力増幅器のように信号光源の雑音と光増幅器の雑音が同程度となる場合においても、光増幅器の雑音特性、例えば自然放出光係数を測定可能とすることを目的とする。また、入力信号光パワーが小さい時においても雑音特性、特に自然放出光係数nspの測定を容易に行う方法を提供することを目的とする。【構成】 信号光源1からの入力光に、光増幅器2のゲインと自然放出光係数とが変調信号光の平均パワーで決定される範囲の変調速度でパルス変調をかける変調手段3と、該変調手段3の制御によって、光増幅器2の増幅出力を、変調信号光が‘H’の状態の時に遮断する光遮断手段4とを備え、入力信号光が‘L’の状態の時の出力を受光して雑音電力を測定する。

Claim (excerpt)：

信号光源(1)からの入力信号光を増幅する光増幅器(2)の雑音特性測定方式において、該入力信号光に、該光増幅器(2)のゲインと自然放出光係数とが変調信号光の平均パワーで決定される範囲の変調速度でパルス変調をかける変調手段(3)と、該変調手段(3)の制御により、該変調信号光の光増幅器(2)による増幅出力を該変調信号光が‘H’の状態の時に遮断し、‘L’の状態の時に透過させる光遮断手段(4)とを備え、入力信号光が‘L’の状態の時の光を受光して雑音電力を測定することを特徴とする光増幅器の雑音特性測定方式。

IPC (2)：

G02F 1/35 501 ,  G01M 11/00