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J-GLOBAL ID：200903097439008996

X線断層撮影装置

Inventor： 森 一生
Applicant, Patent owner： 株式会社東芝
Agent (1)： 三澤 正義
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993091680
Publication number (International publication number)：1994007341
Application date： Dec. 16, 1982
Publication date： Jan. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 データ収集時に被検体を束縛する時間を減少させると共に、複数スライス面の収集時間の短縮化を図ることができ、更に被検体の任意の厚さのスライスの断層像を得ることができるX線CT装置を提供する。【構成】 X線管3が被検体Mの周囲を複数回回転移動中に、システム制御装置(走査手段)13がX線管3と被検体Mとを被検体Mの体軸方向に相対的に移動させる螺旋状の走査を行うことにより、データ収集装置9は、複数画像分の螺旋状データを収集する。画像再構成装置11は、収集された複数画像分の螺旋状データから複数の断層画像データを再構成する。画像加算手段は、再構成された複数の断層画像データ同士を加算する。これにより、任意の厚さのスライスの断層像を得ることができる。

Claim (excerpt)：

被検体の周囲を複数回回転移動しながらX線を曝射するX線源と、被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、前記X線源の複数回の回転移動中に前記X線源と前記被検体とを被検体の体軸方向に相対的に移動させることにより被検体に対して螺旋状の走査を行なう走査手段と、この走査手段での走査により得られる複数画像分の螺旋状データを収集するデータ収集手段と、このデータ収集手段から供給される複数画像分の螺旋状データを用いて複数の断層画像データを再構成する画像再構成手段と、この画像再構成手段により再構成された複数の断層画像データ同士を加算する画像加算手段と、を有することを特徴とするX線断層撮影装置。