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J-GLOBAL ID：200903097453059110

製品の成形履歴の類似度判定装置及びその方法

Inventor： 今西 博子 ,  杉野 和宏 ,  赤坂 信悟 ,  佐伯 準一 ,  西 邦彦
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991273740
Publication number (International publication number)：1993114014
Application date： Oct. 22, 1991
Publication date： May. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】LSIパッケージにおいて、設計パラメータが外形、材料などの製品設計仕様、該設計仕様中で複数の解析結果による評価で求まるときに、該複数解析結果の評価に与える重みを設計対象製品で予測される不良率とする。この為に、既設計済製品と該設計対象製品の間の該不良に対する類似度を効率良く精度良く求める。【構成】設計対象製品と既設計製品との間で該複数解析結果各々について、その結果如何で起こる不良の原因における類似度を以下のように求める。不良を作る製品の状態の時間履歴を求め、(処理201)、特にそれに関係する時間区分を切り出し(処理202)、時間による連続関数を階段関数化し、(処理203)、各々の階段関数化した結果を一律に比較できるマトリックスにし、(処理204)、類似度を数値で表わし、(処理205)、最も類似度の高い製品を求め、その不良率を利用する。

Claim (excerpt)：

製品の仕様を入力することにより成形状態の経時変化を解析する解析実行手段と、経時変化による解析結果を任意の指定区間で切りだす解析結果切りだし手段と、該切り出された連続した経時変化による解析結果を階段関数にする階段関数化手段と、階段関数化された製品それぞれの該解析結果をベクトル化し、製品に対応したベクトルの成分の差に基づくマトリックスを生成する識別マトリックス生成手段と、識別マトリックス生成手段により生成された製品間の差を表した該マトリックスを評価する類似度評価手段とからなることを特徴とする成形履歴の類似度判定装置。

IPC (2)：

G06F 15/60 450 ,  B29C 45/76