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J-GLOBAL ID：200903097454448277

プロセス状態診断システム

Inventor： 本多 義則 ,  西谷 卓史 ,  川口 幸一
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993058939
Publication number (International publication number)：1994273286
Application date： Mar. 18, 1993
Publication date： Sep. 30, 1994
Summary：

【要約】 (修正有)【目的】 プロセス計測データのパターン変化を記号に変換し、プロセスの状態診断に利用することにより、プロセス異常の早期発見およびプロセスの運転員の負荷軽減を目的とする。【構成】 プロセス計測データの変化パターンを記号に変換する記号化部120と、記号の時間的な変化および複数の時系列データの記号間の時間的な関係を用いてプロセスの状態の診断を行う診断部50と、前記各部で用いるパラメータの構築を支援する構築支援部180とからなる。さらに診断部50は、記号の時間的変化を管理する単一データ管理部130と、複数データ間の記号の時間的関係を用いて事象を生成する事象生成部140と、事象の変化を用いてプロセスの状態を診断する故障モード管理部150とからなる。

Claim (excerpt)：

プロセスから得られる各種データを処理して、プロセスの状態を診断するためのシステムにあって、前記プロセスから得られる時系列データなどのパターンデータの変化状態を記号に変換する記号化手段と、前記記号化手段から得られる記号の時間的な変化と複数の記号間の時間的な関係とを用いて、プロセスの状態の診断を行う診断手段と、を有することを特徴とするプロセス状態診断システム。

IPC (3)：

G01M 19/00 ,  G01D 21/00 ,  G05B 23/02 302