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J-GLOBAL ID：200903097456354130
外観検査装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991244745
Publication number (International publication number)：1993060531
Application date： Aug. 30, 1991
Publication date： Mar. 09, 1993
Summary：
【要約】【目的】 はんだ付けの形状がどのような状態にあるかを正確に判定することができるようにする。【構成】 被検査対象物の上方に配置され、該被検査対象物に対して角度を変えて順次光を照射する照明部と、この照明部の光照射による前記検査対象物の表面からの反射光を上方からとらえる撮像カメラと、この撮像カメラからの画像分布データを抽出し記憶する画像メモリ部と、該画像分布データから画素ごとに個々の画像分布データのレベルの相対値をとり、これをもとに相対的に高い画像分布デ-タのレベルに対し形状のデ-タとして選択指定高速信号演算処理する高速画像信号演算処理部と、この結果より形状データとして編成する形状デ-タ部と、さらに該検査対象物の大きさと形状を演算処理し、これらを併せて被検査対象物の特徴を抽出し、検査対象物の状態を判定する認識判定部とからなるはんだ付け状態の外観検査装置
Claim (excerpt)：
検査対象物の上方に配置され、該検査対象物に対して角度を異ならしめて順次光照射を行なう照明部と、この照明部の光照射による前記検査対象物の表面からの反射光を上方からとらえる撮像カメラと、この撮像カメラからの画像分布データを抽出し記憶する画像メモリ部と、該画像分布データから画素ごとに個々の画像分布データのレベルの相対値をとり、相対的に高い画像分布デ-タのレベルに対し、形状のデ-タとして選択指定高速信号演算処理する高速画像信号演算処理部と、この結果より形状データとして編成する形状デ-タ部と、さらに該検査対象物の大きさと形状を演算処理し、これらを併せて被検査対象物の特徴を抽出し、検査対象物の状態を判定する認識判定部とからなることを特徴とする検査対象物状態の外観検査装置。
IPC (3)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, H05K 13/08
