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J-GLOBAL ID：200903097459760210
質量分析装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995002401
Publication number (International publication number)：1996189917
Application date： Jan. 11, 1995
Publication date： Jul. 23, 1996
Summary：
【要約】【目的】微小領域付着物の分析、同定を可能とすること。【構成】光ファイバ50及びイオントラップ方式質量分析計52を有するレーザ質量分析計。
Claim (excerpt)：
レーザ光を試料に照射して励起脱離する分子を検出する質量分析計において、前記レーザ光の波長より小さい開口を先端に有する光ファイバで前記レーザ光を試料に導入することを特徴とする質量分析装置。
IPC (4)：
G01N 27/64
, H01J 49/10
, H01J 49/40
, G01N 27/62
