測定装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000231241
Publication number (International publication number)：2002048603
Application date： Jul. 31, 2000
Publication date： Feb. 15, 2002
Summary：

【要約】【課題】複数の測定チャンネルの測定結果をトレンドグラフで表示するように構成された測定装置における各トレンドグラフに関する情報表示形態を改善することにある。【解決手段】複数の測定チャンネルの測定結果をトレンドグラフで表示するように構成された測定装置において、トレンドグラフで表示される全測定チャンネルの凡例を、トレンドグラフと同一の画面に一覧表示することを特徴とするもの。

Claim (excerpt)：

複数の測定チャンネルの測定結果をトレンドグラフで表示するように構成された測定装置において、トレンドグラフで表示される全測定チャンネルの凡例を、トレンドグラフと同一の画面に一覧表示することを特徴とする測定装置。

IPC (3)：

G01D 7/08 , G01D 7/00 302 , G06F 3/14 310

FI (3)：

G01D 7/08 , G01D 7/00 302 P , G06F 3/14 310 D

F-Term (8)：

2F041UA03 , 5B069AA11 , 5B069AA15 , 5B069BA01 , 5B069BA04 , 5B069BB16 , 5B069DD04 , 5B069HA18

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

プロセス監視装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-266990 Applicant：株式会社日立製作所
測定データ表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-293246 Applicant：国際電気株式会社
グラフ作成表示装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-081309 Applicant：カシオ計算機株式会社

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