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J-GLOBAL ID:200903097472882871

導波路分散測定方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 井出 直孝 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994032682
Publication number (International publication number):1995243943
Application date: Mar. 02, 1994
Publication date: Sep. 19, 1995
Summary:
【要約】【目的】 吸収(または利得)を示す光導波路の導波路分散を測定する。【構成】 平行光束を二つの光束に分岐し、被測定光導波路を通過する第一の光路および光路長が可変の第二の光路に伝播させ、この第一および第二の光路をそれぞれ伝播した二つの光を合波して干渉させることにより第一の干渉光を生成し、第二の平行光束を二つの光束に分岐し、被測定光導波路を通過する第三の光路および光路長が固定の第四の光路に伝播させ、この第三および第四の光路をそれぞれ伝播した二つの光を合波して干渉させることにより第二の干渉光を生成し、この第二の干渉光の強度が一定に保たれるように上記第三の光路の光路長を制御し、この第三の光路の光路長変化と等しい量だけ上記第一の光路の光路長差を調整する。【効果】 吸収(または利得)を示す光導波路において、被測定光導波路の光学長変動の影響を被ることなく導波路分散を測定できる。
Claim (excerpt):
マイケルソン干渉計の反射鏡を設けたアームに挿入された被測定光導波路の分散を測定する導波路分散測定装置において、この被測定光導波路を含む光路長の変化を検出する系を別に設け、その光路長の光学的実効長に変化が生じないようにその光路長の機械的な長さを自動的に変更する手段を備えたことを特徴とする導波路分散測定装置。

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