穀物など穀類の穀粒のような小さな粒を光学的に測定するための装置並びに方法

Inventor： , , , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (8)：鈴江武彦 , 河野哲 , 中村誠 , 蔵田昌俊 , 峰隆司 , 福原淑弘 , 村松貞男 , 橋本良郎
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002542848
Publication number (International publication number)：2004514132
Application date： Nov. 14, 2001
Publication date： May. 13, 2004
Summary：

【課題】【解決手段】本発明は、小さな粒を光学測定して、粒の品質を分析するための方法並びに装置に関する。サンプル供給キャリヤー(2)が、粒サンプルをサンプルホルダー(6)内に取り、粒サンプルを光学測定のための場所に運ぶように適合されている。ミラー支持手段(3)は、キャリヤー(2)の運動に従い、サンプルホルダー(6)と合ったミラー(7)を有する。装置は、光学測定のために位置された粒サンプルと、検出器とを照明する。検出器は、電磁放射線に反応し、照明された粒サンプルの光学測定の結果を記録する。ミラー(7)は、粒サンプルを反射し、かくして、測定が記録されているときに、粒サンプルの鏡像がミラー支持手段の運動の中心軸に映ることによって、ミラー像は実質的に静止して動かないように検出器から見える。

Claim (excerpt)：

穀物などの穀類の穀粒のような小さな粒(5)を光学的に測定し、この粒(5)の品質を分析するための装置であって、各々に少なくとも1つの粒(5)を有している複数の粒サンプルを夫々サンプルホルダー(6)内に取り、これら粒サンプルを光学測定のための場所に移動させるように適合されたサンプル供給キャリヤー(2)と、前記各サンプルホルダー(6)ごとにミラー(7)を有し、前記キャリヤー(2)の動きに従うミラー支持手段(3)と、前記粒サンプルが光学的に測定するために位置されているときに、この粒サンプルを照明するための装置(12)と、照明された前記粒サンプルの光学測定の少なくとも1つの結果を記録するように、電磁放射線に反応する検出器(13)と、測定が記録されているときに、粒サンプルの鏡像がミラー支持手段(3)の運動の中心軸に映ることによって、前記粒サンプルの鏡像が検出器(13)から見ると実質的に静止して動かないように粒サンプルを反射させる、前記ミラー支持手段(3)のミラー(7)とを具備する装置。

IPC (2)：

G01N21/85 , G01N15/00

FI (2)：

G01N21/85 A , G01N15/00 A

F-Term (7)：

2G051AA04 , 2G051AB20 , 2G051CB01 , 2G051CC11 , 2G051CD07 , 2G051DA01 , 2G051DA08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

特開昭62-263449
米粒品位判別装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-130666 Applicant：株式会社佐竹製作所
特開平4-350544

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