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J-GLOBAL ID：200903097518761179

自動分析計の自動校正方法

Inventor： 居原田 健志 ,  森田 洋造 ,  田中 美奈子 ,  北村 洋 ,  中上 英人 ,  山地 裕子
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995212550
Publication number (International publication number)：1997043245
Application date： Jul. 28, 1995
Publication date： Feb. 14, 1997
Summary：

【要約】【課題】 自動校正に要する測定時間を短縮する。【解決手段】 校正を行なう時間になると標準試料を1回測定し、その測定データが前回の校正時の測定データに対して第1許容範囲内にあれば、それ以上の測定は行なわずに前回の校正時の測定データによる検量線を引き続き使用する。その測定データが許容範囲外にあるときはその標準試料について2回の追加測定を繰り返して実施し、合計3回の測定データについて、標準偏差SDと変動係数CVを算出する。SD及びCVがそれぞれ設定された第2許容範囲内にある場合は、その3回の繰返し測定データの平均値を算出し、その平均値が前回の校正時の測定データと比較して第1許容範囲内にあればやはり前回の検量線を用いる。その平均値が第1許容範囲外である場合にのみ、その平均値を用いて検量線を再作成する。SD又はCVが第2許容範囲内にない場合も検量線の再作成は行なわず、前回の検量線を用いて分析を続行する。

Claim (excerpt)：

自動連続分析計で、適当な間隔で標準試料を測定して自動校正を行なう方法において、自動校正時点では標準試料について1回の測定を行ない、その測定データを前回に校正を行なった際のその標準試料の測定データと比較して有意に離れていない場合にはその時点での校正は行なわずに前回の校正での検量線データを引き続いて使用して分析を続行し、有意に離れている場合にはその標準試料の測定を所定回数繰り返し、その標準試料についての繰返し測定の精度が許容範囲内にある場合にのみ校正を行なって検量線を再作成することを特徴とする自動校正方法。

IPC (3)：

G01N 35/00 ,  G01N 1/00 ,  G01N 33/18 103

FI (3)：

G01N 35/00 F ,  G01N 1/00 C ,  G01N 33/18 103