Pat

J-GLOBAL ID：200903097649069785

γ線測定方法及び測定装置

Inventor： 長谷 文昌 ,  木村 敏也 ,  田口 省三 ,  船越 俊夫 ,  柴山 俊
Applicant, Patent owner： 三菱重工業株式会社
Agent (1)： 鈴江 武彦 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997248312
Publication number (International publication number)：1999084010
Application date： Sep. 12, 1997
Publication date： Mar. 26, 1999
Summary：

【要約】【課題】被爆事故を防止できるとともに、リアルタイムに近いγ線量の計測が可能で迅速なプロセス制御が可能であり、かつ前処理時の廃液が増加することもないことを課題とする。【解決手段】γ線を受けることによって化学変化を生じる物質を含む溶液を測定部に流すフロー細管3と、前記フロー細管3に配置され、前記測定部にγ線を受けたことで前記物質に生じた化学変化を検知するフローセル型分析装置6と、γ線を受けて化学変化を生じた物質を調整するデータ処理装置7とを具備し、前記分析装置6で求められた化学変化量からγ線量を求めることを特徴とするγ線測定装置。

Claim (excerpt)：

γ線を受けることによって化学変化を生じる物質を含む流体を管路を通して測定部に流して、γ線を受けることによって化学変化を生じた割合を計測し、その変化した割合からγ線量を求めることを特徴とするγ線測定方法。

IPC (2)：

G01T 1/04 ,  G01T 1/167

FI (2)：

G01T 1/04 ,  G01T 1/167 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 放射線測定装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-287598   Applicant：株式会社東芝