Pat
J-GLOBAL ID:200903097658288015
画像による寸法測定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
奈良 繁
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1994080009
Publication number (International publication number):1995286822
Application date: Apr. 19, 1994
Publication date: Oct. 31, 1995
Summary:
【要約】【目的】 画像処理装置により矩形の傾きを精度よく測定する。また矩形の幅を目視による測定と同じ程度に測定する。【構成】 略矩形の画像の重心を求め、この重心を通り走査線に直交する垂直線を設定し、この垂直線に直交して間隔hで第1線と第2線を引き、第1線と略矩形の交点をA,B、第2線と略矩形の交点をC,Dとし、四辺形ABCDの面積A1を求め、各交点A,B,C,Dより相手の第1線,第2線へ垂線を引き、両端の垂線と第1線、第2線とで囲まれる面積をA0とし、θ=tan-1(A0-A1)/h2 ......(1)(1)式で表されるθを略矩形の重心を通り長辺の方向を示す中心線と垂直線とのなす角度とする。
Claim (excerpt):
略矩形の画像の重心を求め、この重心を通り走査線に直交する垂直線を設定し、この垂直線に直交して間隔hで第1線と第2線を引き、第1線と略矩形の交点をA,B,第2線と略矩形の交点をC,Dとし、四辺形ABCDの面積A1を求め、各交点A,B,C,Dより相手の第1線、第2線へ垂線を引き両端の垂線と第1線及び第2線とで囲まれる面積をA0とし、θ=tan-1(A0-A1)/h2 ......(1)(1)式で表されるθを略矩形の重心を通り長辺の方向を示す中心線と垂直線とのなす角度とすることを特徴とする画像による寸法測定方法。
IPC (3):
G01B 11/02
, G06T 1/00
, G06T 7/60
FI (2):
G06F 15/62 380
, G06F 15/70 350 Z
Return to Previous Page