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J-GLOBAL ID:200903097700464953

周波数測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小森 久夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1995327024
Publication number (International publication number):1997166630
Application date: Dec. 15, 1995
Publication date: Jun. 24, 1997
Summary:
【要約】【課題】 アナログフィルタを特に設けることなく、また入力信号のレベルにヒステリシスをもたせて二値化する必要をなくして、しかも高調波成分やノイズ成分が比較的多くても正しく周波数測定を行う。【解決手段】 入力信号を一定周期でサンプリングし、これをデジタルデータに変換し、ゼロクロス点を挟む複数点のデータに基づいて各々のゼロクロス点のタイミングを求め、隣接するゼロクロス点間の時間を入力信号の基本波周波数の1周期として検出し、これから入力信号の周波数を求める。
Claim (excerpt):
入力信号を一定周期でサンプリングし、これをディジタルデータに変換してデータ列を求める手段と、前記データ列からそれぞれゼロクロス点を挟む前後の複数点のデータに基づいて各々のゼロクロス点のタイミングを求める手段と、ゼロレベルをそれぞれ同一方向にクロスする隣接する2つのゼロクロス点間の時間を入力信号の基本波周波数の一周期として検出して当該入力信号の基本波周波数を求める手段とを備えた周波数測定装置。
IPC (2):
G01R 23/02 ,  H02H 3/46
FI (2):
G01R 23/02 ,  H02H 3/46 D
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭56-155862

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