Pat
J-GLOBAL ID:200903097743774859
固体撮像装置およびその製造方法
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
深見 久郎 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000390315
Publication number (International publication number):2002190586
Application date: Dec. 22, 2000
Publication date: Jul. 05, 2002
Summary:
【要約】【課題】 固体撮像装置において、ダメージ層をできるだけなくし、リーク電流を低減する。【解決手段】 固体撮像装置は、半導体基板1と、この基板上に形成された第1の拡散層を含むフォトダイオードと、上記主表面上に形成された第2の拡散層(FD領域)および第3の拡散層をソース/ドレイン領域として含むMOSトランジスタとを備える。上記FD領域は、上記フォトダイオードによって定まる信号電荷を信号電圧に変換する役割を兼ね、第3の拡散層には、低濃度の不純物を注入されたN-拡散層4aに加えて高濃度の不純物を注入されたN+拡散層4bが形成されているのに対して、上記FD領域にはN-拡散層4aのみが形成されている。なお、FD領域の上側は、イオン注入を遮断するための注入遮断層としての酸化膜5aに覆われている。
Claim (excerpt):
主表面を有する半導体基板と、前記主表面上に形成された第1の拡散層を含むフォトダイオードと、前記主表面上に形成された第2の拡散層および第3の拡散層をソース/ドレイン領域として含むMOS(Metal Oxide Semiconductor)トランジスタとを備え、前記第2の拡散層は、前記フォトダイオードによって定まる信号電荷を信号電圧に変換する役割を兼ね、前記第2の拡散層の不純物濃度は、前記第3の拡散層の不純物濃度の1/10以下である、固体撮像装置。
IPC (3):
H01L 27/146
, H01L 31/10
, H04N 5/335
FI (4):
H04N 5/335 U
, H04N 5/335 E
, H01L 27/14 A
, H01L 31/10 G
F-Term (17):
4M118BA14
, 4M118CA03
, 4M118DD04
, 4M118DD12
, 4M118EA20
, 4M118FA34
, 4M118FA47
, 5C024CX32
, 5C024CY47
, 5C024GX03
, 5C024GX16
, 5C024GY18
, 5F049MA01
, 5F049NA04
, 5F049NB05
, 5F049RA02
, 5F049UA20
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