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J-GLOBAL ID：200903097777970835

試料分析方法、検量線の作成方法及びそれを用いる分析装置

Inventor： 平井 希久生 ,  牧野 快彦
Applicant, Patent owner： 富士写真フイルム株式会社
Agent (1)： 山田 文雄 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996018299
Publication number (International publication number)：1997189695
Application date： Jan. 09, 1996
Publication date： Jul. 22, 1997
Summary：

【要約】【構成】 シグモイド状曲線を描く検量線を、多次関数で表現した低濃度領域の検量線部分、指数関数で表現した中間濃度領域の検量線部分、多次関数で表現した高濃度領域の検量線部分の3つに分割し、その境界点での傾きが等しいことを境界条件として、各濃度領域の検量線の回帰関数を求める。【作用及び効果】 検量線を得るために測定する標準試料の数が少なくてすみ、しかも全濃度領域にわたって精度の高い検量線を得ることができる。

Claim (excerpt)：

既知濃度の被検物を含有する標準試料中の被検物濃度とその分析測定値とから求めた検量線を用いて、試料中の被検物を定量分析する試料分析方法において、前記検量線は、少なくとも(a)多次関数で表現される低濃度領域の検量線部分;(b)指数関数で表現される中間濃度領域の検量線部分;および(c)多次関数で表現される高濃度領域の検量線部分;に分割されており、これら各濃度領域の境界では隣接する2つの検量線部分の傾きが等しくなっていることを特徴とする試料分析方法。

IPC (3)：

G01N 33/52 ,  G01N 33/53 ,  G01N 35/00

FI (3)：

G01N 33/52 Z ,  G01N 33/53 X ,  G01N 35/00 A