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J-GLOBAL ID：200903097824003873

撮像装置及び撮像装置の制御方法

Inventor：
永田 桂次

About 永田 桂次


Applicant, Patent owner：
キヤノン株式会社

About キヤノン株式会社


Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2005318595
Publication number (International publication number)：2007129339
Application date： Nov. 01, 2005
Publication date： May. 24, 2007
Summary：
【課題】蓄積時間の相違に起因する補正誤差が生じない欠陥画素補正を行うことができるようにするとともに、欠陥画素補正を必要最小限の範囲で行うことができるようにする。【解決手段】補正用データ記憶媒体に記憶された撮像素子14の欠陥画素の情報をもとに欠陥画素の補正を行う際に、撮像素子14の蓄積時間に応じて補正する範囲を変化させるようにすることにより、シャッタ速度や蓄積時間に合った欠陥画素補正を行うことができるようにして、必要最小限の欠陥画素補正を行うとともに、長時間蓄積でのキズ補正誤差が生じない補正を行うことができるようにする。【選択図】図8
Claim (excerpt)：
複数の画素から構成される撮像素子の蓄積時間を制御する撮像素子制御手段と、 前記撮像素子の欠陥画素を補正する補正用情報を記憶媒体に記憶する補正用データ記憶手段と、 前記記憶媒体に記憶された補正用情報を基にして前記欠陥画素の補正を行う際に、前記撮像素子制御手段により制御された撮像素子の蓄積時間に応じて補正範囲を変化させて欠陥画素の補正を行う第1の欠陥画素補正手段とを有することを特徴とする撮像装置。
IPC (2)：
H04N 5/243 ,  H04N 5/335
FI (2)：
H04N5/243 ,  H04N5/335 P
F-Term (7)：
5C024BX01 ,  5C024CX23 ,  5C024CX26 ,  5C024HX59 ,  5C122EA14 ,  5C122HA65 ,  5C122HB01
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (4)
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