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J-GLOBAL ID：200903097851251480

欠陥画素検出装置、欠陥画素検出方法、撮像装置、撮像方法および記憶媒体

Inventor： 小倉 隆
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997357736
Publication number (International publication number)：1999183323
Application date： Dec. 25, 1997
Publication date： Jul. 09, 1999
Summary：

【要約】【課題】 均一な光量の照明を使用することなく欠陥画素を検出できるようにする。【解決手段】 複数の画素を有する固体撮像素子11を所定方向に所定量だけ移動させる移動手段13と、前記固体撮像素子11の撮像動作を制御して画像情報を生成させる撮像制御手段14と、前記固体撮像素子11から出力される画像情報をもとにして前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出手段20とを設け、欠陥画素検出装置の構成を簡素化するとともに、正確な欠陥画素検出を行うことができるようにする。

Claim (excerpt)：

複数の画素を有する固体撮像素子の欠陥画素を検出する欠陥画素検出装置であって、前記固体撮像素子を所定方向に所定量だけ移動させる移動手段と、前記固体撮像素子の撮像動作を制御して画像情報を生成させる撮像制御手段と、前記固体撮像素子から出力される画像情報をもとにして前記固体撮像素子の欠陥位置を検出する欠陥位置検出手段とを有することを特徴とする欠陥画素検出装置。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  H01L 27/14 ,  H04N 5/335

FI (4)：

G01M 11/00 T ,  H04N 5/335 Z ,  H04N 5/335 V ,  H01L 27/14 Z