Pat
J-GLOBAL ID:200903097870135350

光学的散乱特性推定方法および装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 円城寺 貞夫 ,  富崎 元成
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002302287
Publication number (International publication number):2004138454
Application date: Oct. 16, 2002
Publication date: May. 13, 2004
Summary:
【課題】散乱体を含む被測定媒体中の光学的な散乱特性が変化する場合において、被測定媒体の散乱特性すなわち散乱体濃度等を高精度かつ容易に推定する方法および装置を提供する。【解決手段】散乱体とマーカー成分とを含む被測定媒体に光を入射させ検出光のスペクトルにより被測定媒体の散乱特性を推定する方法であって、既知の散乱特性を有する被測定媒体において検出光のスペクトルからマーカー成分の濃度を計算するための検量関数を求める手順と、散乱特性の変化量とマーカー成分濃度の検量関数による推定値の偏差の関係を求める手順と、未知の散乱特性を有する被測定媒体における検出光のスペクトルからマーカー成分濃度の検量関数による推定値を求め、その推定値に発生している偏差から未知の散乱特性を求める手順とを有する。【選択図】 図4
Claim (excerpt):
散乱体とマーカー成分とを含む被測定媒体に光を入射させ、前記被測定媒体を通過して前記被測定媒体から射出される検出光のスペクトルにより前記被測定媒体の散乱特性を推定する方法であって、 既知の散乱特性を有する被測定媒体において、検出光のスペクトルから前記マーカー成分の濃度を計算するための検量関数を求める手順と、 散乱特性の変化量とマーカー成分濃度の前記検量関数による推定値に発生する偏差の関係を求める手順と、 未知の散乱特性を有する被測定媒体における検出光のスペクトルからマーカー成分濃度の前記検量関数による推定値を求め、その推定値に発生している偏差から未知の散乱特性を求める手順とを有する光学的散乱特性推定方法。
IPC (3):
G01N21/27 ,  A61B5/145 ,  G01N21/35
FI (3):
G01N21/27 F ,  G01N21/35 Z ,  A61B5/14 310
F-Term (22):
2G059AA01 ,  2G059BB12 ,  2G059BB13 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM05 ,  2G059MM10 ,  2G059MM12 ,  2G059PP04 ,  4C038KK10 ,  4C038KL05 ,  4C038KL07 ,  4C038KX02
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
Show all

Return to Previous Page