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J-GLOBAL ID：200903097876684089

記憶装置及び該装置の制御方法及び記憶システム及び該システムの制御方法

Inventor： 井上 淳
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 大塚 康徳 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996085533
Publication number (International publication number)：1997274541
Application date： Apr. 08, 1996
Publication date： Oct. 21, 1997
Summary：

【要約】【課題】 記憶装置が有する記憶領域の全記憶領域の欠陥の発生の検出及び予測を精度良く自動的に行うことができ、欠陥が発生する記憶領域は他の記憶領域と自動的に代替えすることができる記録装置を提供する。【解決手段】 記憶媒体を備える記憶装置1において、メモリ3の欠陥チェックプログラム3aを用いて、記憶媒体を構成する記憶領域全体に渡って、順次データの読出、書込を行うことで記憶領域の欠陥をチェックする。チェックによって発生したエラーが、再試行可能なエラーであった場合にその発生回数をメモリ3の再試行回数記憶領域3bに累積しておく。チェックによって発生したエラーの内容、あるいは累積される発生回数に基づいて、記憶領域の欠陥箇所を検出する。

Claim (excerpt)：

記憶媒体を備える記憶装置であって、前記記憶媒体を構成する記憶領域全体に渡って、データの読出、書込を行うことで記憶領域の欠陥をチェックするチェック手段と、前記チェック手段のチェックによって発生したエラーが、再試行可能なエラーであった場合にその発生回数を累積する累積手段と、前記チェック手段のチェックによって発生したエラーの内容、あるいは前記累積手段で累積される発生回数に基づいて、前記記憶領域の欠陥箇所を検出する検出手段とを備えることを特徴とする記憶装置。

IPC (3)：

G06F 3/06 305 ,  G06F 3/06 304 ,  G06F 3/06 306

FI (3)：

G06F 3/06 305 A ,  G06F 3/06 304 P ,  G06F 3/06 306 D