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J-GLOBAL ID：200903097886942183

電子スピン共鳴測定法

Inventor： 村山 精一 ,  佐藤 俊彦 ,  矢島 裕介
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 中村 純之助 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991269173
Publication number (International publication number)：1993107327
Application date： Oct. 17, 1991
Publication date： Apr. 27, 1993
Summary：

【要約】【構成】レーザ1から放射される1個の光子を、波長変換手段2において振動数がそれぞれν1,ν2の2個の光子に変換した後、磁場印加手段3により磁場が印加された試料4に入射し、試料4を通過した振動数がそれぞれν1,ν2の光子を光路分離手段5により二つの光路に分離し、二つの光路の終端に設けられた2個の光検出器6-1,6-2で検出した出力光電子電流の差から、試料4の電子スピン共鳴スペクトルを測定する。【効果】それぞれの光電子電流は、光源の量子雑音に関し共通の雑音特性を有するので、その差をとることにより量子雑音が相殺され、極めて低雑音で電子スピン共鳴スペクトルの測定ができる。

Claim (excerpt)：

レーザと、該レーザから放射される1個の光子を、振動数がそれぞれν1,ν2の2個の光子に変換する波長変換手段と、該2個の光子の少なくとも一方と相互作用するよう設置された被測定試料に磁場を印加する磁場印加手段と、該被測定試料を通過した前記振動数がν1,ν2の光子の光路をそれぞれ異なる二つの光路に分離する光路分離手段と、該二つの光路の終端にそれぞれ設けられた2個の光検出器とを有し、該2個の光検出器の出力光電子電流の差から、前記被測定試料の電子スピン共鳴スペクトルを測定することを特徴とする電子スピン共鳴測定法。