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J-GLOBAL ID：200903097964714516

疵検査装置

Inventor： 岩田 穣 ,  堀 光夫 ,  中山 登 ,  竹松 義明 ,  加藤 敏春
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社 ,  オムロン株式会社
Agent (1)： 和田 成則
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991347247
Publication number (International publication number)：1993322791
Application date： Dec. 27, 1991
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：

【要約】【目的】 疵の目視検査を行うオペレータの負担を軽減すると共に、正確な疵の情報を検査結果として表示する。【構成】 表面及び裏面検査部1a,1bのイメージセンサからの検出信号に基づき疵の検出データが表面及び裏面検出部30a,30bにより作成される。この検出データは、長さ判別部31a,31bにより疵の長さに基づいて判別された検出データとなってCRT21a,21bに表示されると共に、検出コントロール部32にロギングされる。また、オペレータがタッチパネル22a,22bを操作することにより目視データが入力コントロール部33にロギングされると共に、この目視データと上記検出データとが監視部コントローラ40により比較される。この比較結果が検査結果として上記CRT21a,21bに表示されると共に、検査表印字部41が検査表に検査結果を印字する。

Claim (excerpt)：

被検査物の被検査面に存在する疵をセンサが検出すると共に、このセンサからの検出信号に基づき検出部が上記疵の検出データを作成し、この検出データをCRTが疵の目視検査を行うオペレータに対して表示する疵検査装置において、上記オペレータによる疵の目視検査結果を目視データとして出力する出力手段と、上記出力手段から出力される目視データと上記検出部で作成された検出データとを比較する比較手段と、上記比較手段による比較結果を表示する表示手段と、を具備することを特徴とする疵検査装置。

IPC (3)：

G01N 21/88 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/89

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-207004
  
• 特開昭61-012341