レーザー脱離イオン化質量分析法

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：岡田正広
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003313480
Publication number (International publication number)：2005083784
Application date： Sep. 05, 2003
Publication date： Mar. 31, 2005
Summary：

【課題】サンプル液を、メンブレンに滴下し直接メンブレン上で質量分析を行う場合に、メンブレン上に効率よく結晶を形成させ質量分析を行う方法、及び、サンプルがメンブレン内に保持されている場合にも、メンブレン上に効率よく結晶を形成させ質量分析を行う方法を提供する。【解決手段】メンブレン上に、サンプルを含む非浸透性のサンプル液を滴下し、メンブレン表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、サンプル液を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。サンプルが保持されたメンブレンの上に非浸透性の液体を滴下し、メンブレン表面上に前記液体の液滴を存在させ、サンプルを液体中に抽出しながら液体を乾燥させてメンブレン上にサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析を行う方法。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

疎水的性質を有するメンブレン上に、解析すべきサンプルを含み且つ前記メンブレンに対して非浸透性であるサンプル液を滴下し、前記メンブレンの表面上に前記サンプル液の液滴を存在させ、前記メンブレンの表面上において前記サンプル液を乾燥させることにより、前記メンブレン表面上及び/又は表層に前記解析すべきサンプルの結晶を形成させ、レーザー脱離イオン化質量分析によって前記サンプルの解析を行う、レーザー脱離イオン化質量分析法。

IPC (2)：

G01N27/64 , G01N27/62

FI (3)：

G01N27/64 B , G01N27/62 F , G01N27/62 V

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

分子の分析
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-543310 Applicant：プロテオームシステムズリミテッド

Cited by examiner (2)

分子の分析
Gazette classification：公表公報 Application number：特願平10-543310 Applicant：プロテオームシステムズリミテッド
レーザー脱離イオン化質量分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-215063 Applicant：株式会社島津製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

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