Pat
J-GLOBAL ID:200903098105298493

幅長さ計測装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大島 陽一 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991214306
Publication number (International publication number):1993034112
Application date: Jul. 31, 1991
Publication date: Feb. 09, 1993
Summary:
【要約】【構成】対象物の幅及び長さなどの二次元的寸法を計測するために、撮像式二次元センサと、撮像式一次元センサと、前記一次元センサを前記対象物に対してスキャンさせるための装置と、前記両センサの出力を処理するための処理装置とを有し、二次元センサは、対象物の静止状態を検出し、一次元センサは、対象物の寸法を高精度に計測する。【効果】搬送されるスラブなどの対象物の二次元的寸法を迅速かつ正確に計測し得る。
Claim (excerpt):
対象物の幅及び長さなどの二次元的寸法を計測するための装置であって、撮像式二次元センサと、撮像式一次元センサと、前記一次元センサを前記対象物に対してスキャンさせるための手段と、前記両センサの出力を処理するための処理装置とを有することを特徴とする幅長さ計測装置。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭60-196607
  • 特開昭57-067107

Return to Previous Page