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J-GLOBAL ID：200903098169600401

質量分析用サンプル調製装置

Inventor： 山口 亮 ,  池上 孝 ,  杉山 清浩 ,  秋永 伸幸
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所 ,  科学技術振興事業団
Agent (1)： 野口 繁雄
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001288609
Publication number (International publication number)：2003098154
Application date： Sep. 21, 2001
Publication date： Apr. 03, 2003
Summary：

【要約】【課題】 イオン化のためにレーザー照射する位置を特定するのを容易にする。【解決手段】 送風用の微小ノズル12をサンプル溶液8の一端に近づけて送風する。分注スポット6内のサンプル溶液8において、送風されている部分では表面からの蒸発が活発になり、他の部分に比べ急激な結晶化がおこる。その後は、サンプル溶液の局所的な結晶化に伴ってサンプル溶液の濃度勾配が発生し、結晶化していない溶質が結晶付近に流れ込み、結晶化する。結果として、送風されている部分を中心に結晶が成長する。このように成長した結晶であれば、最適なレーザー照射位置の指定も容易であり、送風用微小ノズルの位置情報をTOFMSに送り、その位置情報に基づいてレーザー照射位置を決定するようにすれば、高速自動処理も可能となる。

Claim (excerpt)：

質量分析用サンプルプレート上にサンプルを含む溶液を分注し、乾燥させて結晶化させるサンプル調製装置において、乾燥過程でサンプル溶液の状態を場所的に不均一にする機構を備えて結晶成長開始位置を特定することを特徴とするサンプル調製装置。

IPC (5)：

G01N 27/64 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/28 ,  G01N 27/62 ,  H01J 49/04

FI (5)：

G01N 27/64 B ,  G01N 1/00 101 K ,  G01N 27/62 K ,  H01J 49/04 ,  G01N 1/28 L

F-Term (14)：

2G052AD06 ,  2G052AD52 ,  2G052DA05 ,  2G052DA06 ,  2G052EB01 ,  2G052FD18 ,  2G052GA24 ,  2G052JA07 ,  5C038EE02 ,  5C038EF15 ,  5C038EF21 ,  5C038EF22 ,  5C038EF25 ,  5C038EF31