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J-GLOBAL ID：200903098288720849
質量分析計および分析方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
作田 康夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999111816
Publication number (International publication number)：2000306545
Application date： Apr. 20, 1999
Publication date： Nov. 02, 2000
Summary：
【要約】【課題】イオントラップ型質量分析器を有する質量分析計によりタンデム質量分析法を行う場合において、プリカーサーイオンからのフラグメントイオン生成効率を高める。【解決手段】エンドキャップ電極に印加される共鳴信号のパラメータ(振幅、周波数、位相)の少なくとも一つを、定められたタイミングにおいて変化させることで、不必要な加速によりプリカーサーイオンが解裂する以前に質量分析器の内部から失われる現象を防ぐ。
Claim (excerpt)：
試料をイオン化するイオン化手段と、上記イオン化手段で生成されたイオンの質量を分析する四重極イオントラップ質量分析器と、前記四重極質量分析器を構成するエンドキャップ電極に信号を印加するための信号印加手段と、前記信号印加手段が発生する前記信号の波形を定める波形発生手段とからなる質量分析計であって、前記波形発生手段により前記信号のパラメータ(振幅、周波数、位相)の少なくとも一つを定められたタイミングで変化させることを特徴とする質量分析計。
IPC (3)：
H01J 49/42
, B01D 59/46
, G01N 27/62
H01J 49/42
, B01D 59/46
, G01N 27/62 L
