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J-GLOBAL ID：200903098292540103

乱数生成装置

Inventor： 長井 剛一郎
Applicant, Patent owner： システム工学株式会社 ,  科学技術振興事業団
Agent (1)： 藤村 元彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998232823
Publication number (International publication number)：2000066592
Application date： Aug. 19, 1998
Publication date： Mar. 03, 2000
Summary：

【要約】【目的】 暗号理論的に安全な2値乱数を容易に生成することが可能で、小型化に適した乱数生成装置を提供する。【解決手段】 接合を含む半導体素子と、降伏電流が生じる程の逆バイアス電圧を接合に印加する逆バイアス印加手段と、接合を含む電流路に生ずる雑音信号をサンプリングして得られるデジタル信号を乱数として出力するデジタル化回路と、を有する。

Claim (excerpt)：

接合を含む半導体素子と、降伏電流が生じる程の逆バイアス電圧を前記接合に印加する逆バイアス印加手段と、前記接合を含む電流路に生ずる雑音信号をサンプリングして得られるデジタル信号を乱数として出力するデジタル化回路と、からなることを特徴とする乱数生成装置。

IPC (3)：

G09C 1/00 650 ,  G06F 7/58 ,  H03K 3/84

FI (3)：

G09C 1/00 650 B ,  G06F 7/58 A ,  H03K 3/84 Z

F-Term (5)：

5J049AA00 ,  5J049AA14 ,  5J049AA15 ,  5J049BB01 ,  5J049CB01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭53-138669
  
• 特開平2-145010