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J-GLOBAL ID：200903098371935547

自動磁粉探傷装置

Inventor： 富 田 一 臣 ,  吉 田 三 男 ,  久 保 三 敏 ,  松 田 著 利
Applicant, Patent owner： 新日本製鐵株式会社 ,  ニッテツ北海道制御システム株式会社
Agent (1)： 杉信 興
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992199847
Publication number (International publication number)：1994043120
Application date： Jul. 27, 1992
Publication date： Feb. 18, 1994
Summary：

【要約】【目的】 磁化させた検査対象物の表面に磁粉液を付着させてテレビカメラにより得た画像データを解析することにより被検査物探傷を行う自動磁粉探傷装置において、確実に疵を検出するための画像データ輝度分割(2値化)手段を提供する。【構成】 検査対象物表面の画像データの1画面毎に任意の1ラインにおける輝度毎の画素数分布を求めた後、1ラインにおける輝度毎の画素数分布より画素数が零となる最も低い輝度を求め、最も低い輝度より定められるしきい値により、該画像データを2値化する。【効果】 確実な傷検出が行える。

Claim (excerpt)：

磁化させた検査対象物の表面に磁粉液を付着させて、テレビカメラにより得られる検査対象物表面の画像データを解析することにより被検査物探傷を行う自動磁粉探傷装置において、該画像データの1画面毎にラインにおける輝度毎の画素数分布を求める輝度分布変換手段と、前記ラインにおける輝度毎の画素数分布より画素数が零となる最も低い輝度を求める輝度検出手段と、前記最も低い輝度より求められるしきい値により該画像データを2値化する2値化手段と、を有することを特徴とする自動磁粉探傷装置。

IPC (3)：

G01N 21/91 ,  G01N 27/84 ,  G01J 1/04