Pat

J-GLOBAL ID：200903098416598040

X線撮影装置

Inventor： 宮田 博 ,  中山 徹 ,  岡村 貴由 ,  河野 昌弘 ,  中田 勲 ,  祐安 克典
Applicant, Patent owner： 株式会社島津製作所
Agent (1)： 杉谷 勉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001245207
Publication number (International publication number)：2003052680
Application date： Aug. 13, 2001
Publication date： Feb. 25, 2003
Summary：

【要約】【課題】 一度の撮影操作でX線透視撮影とX線断層撮影との両方を行なうX線撮影装置を提供する。【解決手段】 X線管1とパネル型検出器2とを被検体Mに対して同一方向に連動して平行移動させながらX線透視画像を収集するとともに、収集されたX線透視画像を画像積分処理することにより断層撮影対象面に対応するX線断層画像を得る構成を備えているので、被検体Mに対するX線管1およびパネル型検出器2の移動方向がX線透視撮影とX線断層撮影とで同一になり、X線透視撮影およびX線断層撮影を一度の撮影操作で行なえ、積み重ね設定された各断層撮影対象面についてのX線断層画像を積み重ねて立体画像も作成でき、一度の撮影操作で、X線透視画像とX線断層画像とに加え、立体画像をも得ることができる。

Claim (excerpt)：

(A)被検体にX線を照射するX線源と、(B)被検体を挟んで前記X線源に対向配置されるとともに2次元状X線検出面を有するX線検出器と、(C)前記X線源および前記X線検出器を対向配置のまま被検体に対して同一方向に連動して相対的に平行移動させる平行移動走査を行なう連動走査手段と、(D)X線の照射に伴って前記X線検出器から出力されるX線検出信号に基づきX線透視画像を収集する透視画像収集手段と、(E)前記X線源および前記X線検出器の平行移動走査に伴って収集された複数枚のX線透視画像を、2次元状X線検出面に平行な断層撮影対象面の同一位置に対応する画素同士が常に合致するようにして画像積分処理することで断層撮影対象面に対応するX線断層画像を得る画像積分手段とを備えていることを特徴とするX線撮影装置。

IPC (2)：

A61B 6/02 301 ,  A61B 6/02 300

FI (2)：

A61B 6/02 301 D ,  A61B 6/02 300 C

F-Term (10)：

4C093AA02 ,  4C093AA11 ,  4C093CA18 ,  4C093CA37 ,  4C093CA39 ,  4C093EA02 ,  4C093EB12 ,  4C093EC26 ,  4C093FF42 ,  4C093FF45

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開平3-284248
  
• X線断層撮影装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-109642   Applicant：株式会社東芝