Pat
J-GLOBAL ID：200903098503230793
多極イオン案内を有する質量分析法
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
金倉 喬二
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2000551420
Publication number (International publication number)：2002517070
Application date： May. 29, 1999
Publication date： Jun. 11, 2002
Summary：
【要約】質量スペクトル計(40)は共通の中心線(5)沿いに整列した組立体内に構成される個々の多極イオン案内(60,62)とともに構成され、ここで組立体内に構成される各多重イオン案内(60,62)の少なくとも一部分は、より高い背景圧力とともに真空領域(72,73)内にある。より高圧の真空領域(72,73)内に構成される上記多重イオン案内(60,62)は、質量対電荷選択とイオン破砕モードで作動する。RF,+/-DCと共鳴周波数波形電圧の個々のセットは、電位を各多重イオン案内の棒へ供給して、イオン伝播作動、イオントラップ、質量対電荷選択とイオン破砕機能を独立的に各イオン案内(60,62)において可能にする。各多重イオン案内直線組立体の一部分に沿ってイオンを中性ガスに衝突させるのに充分な高さに維持される背景圧力の存在は、イオンを一つの多重イオン案内から隣接するイオン案内へ軸方向加速することによって、三重4極イオン機能に類似の、イオンの衝突誘導分離(CID)を実施可能にする。
Claim (excerpt)：
化学種の分析装置であって、(a)イオンを試料物質からつくるべく実質的に大気圧で作動のためのイオン源と、(b)少なくとも一つの真空ポンピング工程とともに真空装置と、(c)上記真空ポンピング工程の少なくとも一つに構成される検出器と、(d)少なくとも一つの上記真空ポンピング工程内に少なくとも二つの多極イオン案内の構成とを含み、各上記多極イオン案内の少なくとも一部分が、少なくとも一つの上記真空ポンピング工程内に位置し、上記真空工程内の背景圧力を、衝突が上記イオンと中性ガス分子の間に上記二つの多極イオン案内内のイオンとともに起きる程度に充分高く維持し、かつ(e)少なくとも一つの上記多極イオン案内内で質量対電荷を選択するための手段とを含む装置。
IPC (3)：
H01J 49/42
, G01N 27/62
, H01J 49/06
H01J 49/42
, G01N 27/62 L
, H01J 49/06
