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J-GLOBAL ID:200903098526671940

物品の変形解析方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000234024
Publication number (International publication number):2002049650
Application date: Aug. 02, 2000
Publication date: Feb. 15, 2002
Summary:
【要約】【課題】物品の製造の各過程前後や使用前後における物品の形状の変形状態を容易にかつ迅速に検討する解析方法及び装置ならびにそのような解析方法を実現するコンピュータプログラムを記憶した記憶媒体を提供すること。【解決手段】CAE解析用の形状データと基本形状で求められた基本形状収縮データを読み出すをそれぞれ読み出す。読み出されたCAE用形状データの各部分の収縮データを基本形状収縮データから作成する。そしてこの作成された収縮データに基づいて変形解析を実行する変形解析を行なう。
Claim (excerpt):
CAE解析用の形状データを読み出すCAE用形状データ読み出し工程と、基本形状で求められた基本形状収縮データを読み出す収縮データ読み出し工程と前記読み出されたCAE用形状データの各部分の収縮データを前記読み出された基本形状収縮データから作成する収縮データ作成工程と、前記作成された収縮データに基づいて変形解析を実行する変形解析工程とを有することを特徴とする物品の変形解析方法。
IPC (3):
G06F 17/50 612 ,  G06F 17/50 680 ,  B29C 45/76
FI (3):
G06F 17/50 612 H ,  G06F 17/50 680 C ,  B29C 45/76
F-Term (6):
4F206JA07 ,  4F206JL09 ,  4F206JP30 ,  5B046AA05 ,  5B046DA02 ,  5B046JA07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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