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J-GLOBAL ID：200903098594931098

偏波探傷法

Inventor： 吉田 洋司 ,  山崎 三朗
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  日立エンジニアリング株式会社
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998161774
Publication number (International publication number)：1999352111
Application date： Jun. 10, 1998
Publication date： Dec. 24, 1999
Summary：

【要約】 (修正有)【課題】「またぎ走査」による斜角超音波探傷において送波子と受波子の偏波軸を相対的に変化させることにより、偏波現象に起因する検出性の変化を利用して欠陥性状の評価と種類の判別を行う。【解決手段】2個の超音波探触子を有し、そのうち、第一の振動子を送波子、第二の振動子を受波子として使用する2探触子式超音波探傷法において、受波子の偏波軸の向きが送波子の偏波軸の向きと異なることにある。

Claim (excerpt)：

2個の超音波探触子を有し、そのうち、第一の振動子を送波子、第二の振動子を受波子として使用する2探触子式超音波探傷法において、受波子の偏波軸の向きが送波子の偏波軸の向きと異なることを特徴とする超音波探傷法。