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J-GLOBAL ID：200903098607033078
X線定量装置およびX線定量方法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992273316
Publication number (International publication number)：1994121791
Application date： Oct. 13, 1992
Publication date： May. 06, 1994
Summary：
【要約】【目的】3つ以上のエネルギーバンドを有するX線を十分な光子数を保ちながら照射し、3つ以上の物質で構成される物体の定量を精度よく行う。【構成】X線管11の管電圧切替え装置12、K吸収端フィルタ13、CdTe半導体X線検出器14を設け、これらを同期して移動させて2次元の透過情報を得る。X線管11から放射されるファンビームX線21はK吸収端フィルタ13により、2つのエネルギーバンドに分離される。さらに、1ライン毎に管電圧を切り替えることにより異なったスペクトルのX線をX線管11から放射し、K吸収端フィルタ13で分離して異なるエネルギーバンドを少なくとももう1つ得る。これら3つ以上のエネルギーバンドのX線の透過量をCdTe半導体X線検出器14により測定し、これら測定透過量を用いて演算装置17で演算することで被検体15中の3つ以上の物質を定量する。
Claim (excerpt)：
X線を照射するとともに、X線のエネルギースペクトルを切り替え可能なX線照射手段と、前記X線照射手段から照射されるX線のスペクトルを複数のエネルギーバンドに分離するフィルタと、前記フィルタで分離した複数のエネルギーバンドのX線が被検体に照射され、エネルギーバンド毎に前記被検体のX線透過強度を検出するX線検出手段と、前記X線検出手段により検出されたX線透過強度を用いて演算し前記被検体中に含まれる物質の定量計算を行う演算手段とを備えたX線定量装置。
IPC (4)：
A61B 6/00 333
, A61B 10/00
, G01N 23/08
, G01T 1/24
