塩基配列解析装置

Inventor： , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (8)：鈴江武彦 , 河野哲 , 中村誠 , 蔵田昌俊 , 峰隆司 , 福原淑弘 , 村松貞男 , 橋本良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006115857
Publication number (International publication number)：2006234832
Application date： Apr. 19, 2006
Publication date： Sep. 07, 2006
Summary：

【課題】自動で精度の高い塩基配列の検出及び解析を行う。【解決手段】チップ2と、チップ2と通信可能に接続され制御部の動作を制御する制御指令をチップ2に送信とともに減算部における減算結果をチップ2から受信するコンピュータ1と、を備え、チップ2は、基板11上に形成され検出の対象とする標的塩基配列とは相補的な塩基配列を有するプローブが固定化される複数の検出極と、基板11上に形成され標的塩基配列と相補的な塩基配列を有するプローブが固定化されていない対照極と、基板11に形成され複数の検出極の電気化学信号を測定する第1測定部と、基板11に形成され対照極の電気化学信号を測定する第2測定部と、基板11に形成され第1測定部の第1測定値から第2測定部の第2測定値を減算する減算部と、基板外部からの信号に基づき、第1測定部及び第2測定部の測定を同時に制御しかつ減算部の減算を制御する制御部と、を備える。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

塩基配列解析チップと、コンピュータと、を具備する塩基配列解析装置であって、前記塩基配列解析チップは、基板と、前記基板上に形成され、検出の対象とする標的塩基配列とは相補的な塩基配列を有するプローブが固定化される複数の検出極と、前記基板上に形成され、前記標的塩基配列と相補的な塩基配列を有するプローブが固定化されていない対照極と、前記基板に形成され、前記複数の検出極の電気化学信号を測定する第1測定部と、前記基板に形成され、前記対照極の電気化学信号を測定する第2測定部と、前記基板に形成され、前記第1測定部の第1測定値から前記第2測定部の第2測定値を減算する減算部と、前記基板外部からの信号に基づき、前記第1測定部及び前記第2測定部の測定を同時に制御し、かつ前記減算部の減算を制御する制御部と、を具備し、前記複数の検出極は、少なくとも2つの検出極からなる検出極群の集合からなり、前記対照極は、少なくとも2つの対照極からなる対照極群の集合からなり、前記第1測定部は複数の前記検出極群の各々に対して1つずつ複数設けられ、前記第2測定部は複数の前記対照極群の各々に対して1つずつ複数設けられ、前記制御部は、複数の前記第1測定部の測定を同時に制御し、かつ、複数の前記第2測定部の測定を同時に制御し、前記コンピュータは、前記塩基配列解析チップと通信可能に接続され、前記制御部の動作を制御する制御指令を前記塩基配列解析チップに送信するとともに、前記減算部における減算結果を前記塩基配列解析チップから受信することを特徴とする塩基配列解析装置。

IPC (5)：

G01N 27/416 , G01N 33/53 , G01N 37/00 , G01N 33/543 , G01N 27/327

FI (5)：

G01N27/46 336M , G01N33/53 M , G01N37/00 102 , G01N33/543 593 , G01N27/30 351

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (4)

塩基配列解析チップ及び塩基配列解析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2002-223394 Applicant：株式会社東芝
核酸検出用センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-299134 Applicant：株式会社東芝
遺伝子の検出用チップ、検出装置、並びに検出方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-321009 Applicant：竹中繁織, 内田和彦, 宮原孝俊

Show all

Return to Previous Page