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J-GLOBAL ID：200903098838391481

粒子中の化学成分測定方法

Inventor：
田中 伸幸

About 田中 伸幸


Applicant, Patent owner：
財団法人電力中央研究所

About 財団法人電力中央研究所


Agent (2)： 村瀬 一美 ,  井口 恵一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003006945
Publication number (International publication number)：2004219250
Application date： Jan. 15, 2003
Publication date： Aug. 05, 2004
Summary：
【課題】大気中や排ガス中における存在量が極めて少ないナノ粒子に含まれる化学成分を検出する。共存する化学成分の影響を受けずに測定対象とする化学成分の正確な同定または定量を可能とする。煩雑である上、試料に含まれる測定対象の化学成分を損失する可能性がある前処理操作を大幅に簡略化する。【解決手段】帯電微粒子の電気移動度が粒径に依存する性質を利用して試料中における特定粒径の粒子のみを静電分級し、これら分級された特定粒径の粒子に対し測定対象とする化学成分の励起エネルギーに相当する特定波長のレーザー光を照射することにより当該測定対象とする化学成分のみを選択的に励起させ、さらにこれをイオン化させたのち、このイオン化された特定の化学成分が検出器14に到達するまでの飛行時間および電流から分級された特定粒径の粒子に含まれる化学成分を同定しまたは定量する。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
帯電微粒子の電気移動度が粒径に依存する性質を利用して試料中における特定粒径の粒子のみを静電分級し、これら分級された特定粒径の粒子に対し測定対象とする化学成分の励起エネルギーに相当する特定波長のレーザー光を照射することにより当該測定対象とする化学成分のみを選択的に励起させ、さらにこれをイオン化させたのち、このイオン化された特定の化学成分が検出器に到達するまでの飛行時間および電流から前記分級された特定粒径の粒子に含まれる化学成分を同定しまたは定量することを特徴とする粒子中の化学成分測定方法。
IPC (4)：
G01N27/64 ,  G01N1/02 ,  G01N15/14 ,  G01N27/62
FI (5)：
G01N27/64 B ,  G01N1/02 C ,  G01N1/02 Q ,  G01N15/14 Z ,  G01N27/62 K
F-Term (14)：
2G052AA01 ,  2G052AC02 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD55 ,  2G052BA14 ,  2G052CA03 ,  2G052CA04 ,  2G052CA12 ,  2G052EA00 ,  2G052GA24 ,  2G052JA03 ,  2G052JA04 ,  2G052JA09
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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