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J-GLOBAL ID：200903098928091622

超音波による内部欠陥の映像化方法、及び、装置

Inventor：
高田 一

About 高田 一


Applicant, Patent owner：
JFEスチール株式会社

About JFEスチール株式会社


Agent (3)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002314291
Publication number (International publication number)：2004150875
Application date： Oct. 29, 2002
Publication date： May. 27, 2004
Summary：
【課題】水浸Cスキャン超音波探傷による内部欠陥の映像化における分解能を向上させる。【解決手段】集束ビームを送受信する超音波プローブ10を走査しながら、欠陥エコーのビーム路程を計測し、多数の点で計測したビーム路程から欠陥像を合成する。欠陥像の合成にあたり、超音波ビームの指向性も組み入れる。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
水浸型超音波プローブと被検体との間に水を介在させ、該超音波プローブを被検体に対して相対的に走査しつつ、超音波を被検体に向け送信し、該被検体の内部欠陥からの反射波(エコー)を受信して内部欠陥を映像化する超音波による内部欠陥の映像化方法において、 点集束型超音波プローブから超音波集束ビームを被検体に向け送信して、該被検体の内部欠陥からの反射波(エコー)を受信し、 各測定点において、欠陥エコーのビーム路程を記録し、 内部欠陥像の再構成を行うに当り、被検体の再構成像を同じ大きさの微小要素に分け、各測定点毎に計測したビーム路程から欠陥エコー源となりうる微小要素を選び出し、 重複して選び出された回数に応じて上記微小要素に濃淡や色をつけて、被検体の内部欠陥を表示することを特徴とする、超音波による内部欠陥の映像化方法。
IPC (3)：
G01N29/22 ,  G01N29/04 ,  G01N29/10
FI (3)：
G01N29/22 502 ,  G01N29/04 503 ,  G01N29/10
F-Term (16)：
2G047AA06 ,  2G047AA08 ,  2G047AB01 ,  2G047AB04 ,  2G047BA02 ,  2G047BB06 ,  2G047BC09 ,  2G047EA01 ,  2G047GB02 ,  2G047GB24 ,  2G047GF18 ,  2G047GG21 ,  2G047GG35 ,  2G047GH06 ,  2G047GH09 ,  2G047GH13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (12)
  • 特開平4-019558
  • 特開平4-019558
  • 特開昭61-160053
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Article cited by the Patent：
Cited by examiner (2)
  • [非破壊検査シリーズ]超音波探傷試験3, 20010611, 2001年版, 95頁
  • [非破壊検査シリーズ]超音波探傷試験3, 20010611, 2001年版, 95頁

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