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J-GLOBAL ID:200903099035583949

検査装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991216905
Publication number (International publication number):1993054126
Application date: Aug. 28, 1991
Publication date: Mar. 05, 1993
Summary:
【要約】【構成】検査データを格納する高速メモリX9、高速メモリY10及び、メモリA14、メモリB15を設け、検査中に、未使用のメモリに、磁気ディスク13から、次に検査する品名の検査データを転送する。【効果】検査中に、検査データの転送を並行して、行うことにより、検査タクトを高速化できる。
Claim (excerpt):
被検査物の検査データと被検査物の検出結果を比較照合する検査装置において、被検査物の検査データを、1品名分格納できるメモリを、2式以上もち、多量多品名の検査データを格納する外部記憶装置をもち、次に検査する品名を予約入力できる手段を有して、検査実行中に、未使用のメモリに、次に検査する品名の被検査物の検査データを格納する手段を有し、次の品名の検査時、前記、次の検査データを格納したメモリから、検査データを読み出して、検査することを特徴とした検査装置。
IPC (5):
G06F 15/62 405 ,  G01N 21/88 ,  G06F 3/06 301 ,  G06F 13/38 310 ,  G06F 15/64 450
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開平1-108682

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